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数据记录仪介绍:
DAQ6510 数据采集和记录万用表系统的直观触摸屏能够提供简单的配置,以及可视的直观测试设置、实时的扫描状态可视信息,可尽早捕捉问题以避免丢失测试时间,便于分析测试数据。DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 个内置测量功能进行测量。 执行低电流、低电阻和温度测量,并使用内置数字化器查看瞬态信号。
监视器
分析

设置和运行测试简单快速,无需编写测试程序。 DAQ6510 数据采集和记录万用表系统的直观触摸屏能够提供简单的配置,以及可视的直观测试设置、实时的扫描状态可视信息,可尽早捕捉问题以避免丢失测试时间,便于分析测试数据。
特点
- 配置:使用一个测量和扫描配置菜单设置具有多种测量功能的多通道扫描。
- 运行和监视:在测试过程中显示扫描进度,即时查看超出范围的测量结果和超出的限制。
- 分析:使用绘图和统计功能显示和分析结果。 使用触摸屏的手指开合缩放功能深入研究结果。 使用光标计算关于数据段的统计信息。
DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 个内置测量功能进行测量。 执行低电流、低电阻和温度测量,并使用内置数字化器查看瞬态信号。
数据记录仪特点
- 电压:100 nV 至 1000 V,基本 DCV 精度为 0.0025%
- 电流:10pA 至 3A
- 电阻:1μΩ 至 120MΩ
- 电容:0.1 pF 至 100 μF
- 使用热电偶、电阻温度检测器和热敏电阻进行温度测量(温度范围为 -200°C 至 1820°C)
- 1 M 采样/秒、16 位数字化器和可容纳 700 万个读数的存储
- 通过 12 个插件开关模块和高达 80 个通道的容量为测试系统提供更多选择
缩短测试时间

在*短时间内*大限度地收集数据。 更快速地测量,更快地切换通道,以及扫描更多通道。
特点
- 对 60 Hz (50 Hz) 的电源线进行短至 0.0005 个电源线周期或 8.3μs (10 µs) 的测量。
- 使用固态多路复用器插件开关模块以每秒 800 个通道的速率进行扫描。
- 扫描多达 80 个 2 极通道,可在单次测试中测试有统计学意义的数量的 DUT。
快速可靠地连接到您的 DUT

如果您开始通过其许多插件开关模块的接线头 D-sub 连接,DAQ6510 甚至可以在您开始测试前就提高您的工作效率。 这可以在系统维护期间或在您设置新测试系统时,*大限度减少更换插件开关模块时产生的停机时间。
从一组完整的界面选项中进行选择
可将标准 LAN、LXI 和 USB 接口轻松集成到您的测试系统中。 (可选)可在现场安装的 GPIB 和 RS-232 接口包括 6 个数字 I/O 端口,可实现直接仪器间同步和通信。 DAQ6510 可以轻松与您选择的任何 PC 接口配合使用。
使用 KickStart 数据采集应用程序快速实现 PC 自动化


设置和运行测试简单快速,无需编写测试程序。 DAQ6510 数据采集和记录万用表系统的直观触摸屏能够提供简单的配置,以及可视的直观测试设置、实时的扫描状态可视信息,可尽早捕捉问题以避免丢失测试时间,便于分析测试数据。
特点
- 配置:使用一个测量和扫描配置菜单设置具有多种测量功能的多通道扫描。
- 运行和监视:在测试过程中显示扫描进度,即时查看超出范围的测量结果和超出的限制。
- 分析:使用绘图和统计功能显示和分析结果。 使用触摸屏的手指开合缩放功能深入研究结果。 使用光标计算关于数据段的统计信息。
执行更广泛的测量
DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 个内置测量功能进行测量。 执行低电流、低电阻和温度测量,并使用内置数字化器查看瞬态信号。
特点
- 电压:100 nV 至 1000 V,基本 DCV 精度为 0.0025%
- 电流:10pA 至 3A
- 电阻:1μΩ 至 120MΩ
- 电容:0.1 pF 至 100 μF
- 使用热电偶、电阻温度检测器和热敏电阻进行温度测量(温度范围为 -200°C 至 1820°C)
- 1 M 采样/秒、16 位数字化器和可容纳 700 万个读数的存储
- 通过 12 个插件开关模块和高达 80 个通道的容量为测试系统提供更多选择
缩短测试时间

在*短时间内*大限度地收集数据。 更快速地测量,更快地切换通道,以及扫描更多通道。
特点
- 对 60 Hz (50 Hz) 的电源线进行短至 0.0005 个电源线周期或 8.3μs (10 µs) 的测量。
- 使用固态多路复用器插件开关模块以每秒 800 个通道的速率进行扫描。
- 扫描多达 80 个 2 极通道,可在单次测试中测试有统计学意义的数量的 DUT。
快速可靠地连接到您的 DUT

如果您开始通过其许多插件开关模块的接线头 D-sub 连接,DAQ6510 甚至可以在您开始测试前就提高您的工作效率。 这可以在系统维护期间或在您设置新测试系统时,*大限度减少更换插件开关模块时产生的停机时间。
从一组完整的界
面选项中进行选择
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