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德国EPK涂层测厚仪-MINITEST 720/730/740**的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的**性 。测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用。
德国EPK涂层测厚仪-MINITEST 720/730/740 产品介绍
**的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的**性
测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用
FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错
MINITEST 700优点一览:
SIDSP使测量不受干扰,测值更加**
可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
温度补偿功能避免温度变化引起的错误
生产过程中50点校准使仪器获得高**度的特征曲线
大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
读数和统计值能单独调出
超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
菜单指引操作,25种语言可选
带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
可下载更新软件
标准配置:
带塑料手提箱,内含:
MINITEST 720(内置探头)
或MINITEST 730(外置探头)
或MINITEST740主机(不含探头,有各种探头可选)
校准套装含校准片和零板
操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语
2节AA电池
推荐配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
德国EPK涂层测厚仪-MINITEST 720/730/740
型号 特性 |
MINITEST 720 |
MINITEST 730 |
MINITEST 740 |
探头类型 |
内置 |
外置 |
内置外置可换 |
数据记忆组数 |
10 |
10 |
100 |
存储数据量 |
多10,000个 |
多10,000个 |
多100,000个 |
统计值 |
读值个数,小值,大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置) |
||
校准程序符合国际标准和规范 |
ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准 |
||
校准模式 |
出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值 |
||
极限值监控 |
声、光报警提示超过极限 |
||
测量单位 |
um,mm,cm;mils,inch,thou |
||
操作温度 |
-10℃-60℃ |
||
存放温度 |
-20℃-70℃ |
||
数据接口 |
IrDA 1.0(红外接口) |
||
电源 |
2节AA电池 |
||
标准 |
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 |
||
体积 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
||
重量 |
约175g |
约210g |
约175g(内置)/230g(外置) |
型号 特性 |
MINITEST 720
|
MINITEST 730
|
MINITEST 740
|
探头类型
|
内置
|
外置
|
内置外置可换
|
数据记忆组数
|
10
|
10
|
100
|
存储数据量
|
多10,000个
|
多10,000个
|
多100,000个
|
统计值
|
读值个数,小值,大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)
|
||
校准程序符合国际标准和规范
|
ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准
|
||
校准模式
|
出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值
|
||
极限值监控
|
声、光报警提示超过极限
|
||
测量单位
|
um,mm,cm;mils,inch,thou
|
||
操作温度
|
-10℃-60℃
|
||
存放温度
|
-20℃-70℃
|
||
数据接口
|
IrDA 1.0(红外接口)
|
||
电源
|
2节AA电池
|
||
标准
|
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 |
||
体积
|
157mm x 75.5mm x 49mm
|
||
重量
|
约175g
|
约210g
|
约175g(内置)/230g(外置)
|
型号 特性 |
MINITEST 720
|
MINITEST 730
|
MINITEST 740
|
探头类型
|
内置
|
外置
|
内置外置可换
|
数据记忆组数
|
10
|
10
|
100
|
存储数据量
|
多10,000个
|
多10,000个
|
多100,000个
|
统计值
|
读值个数,小值,大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)
|
||
校准程序符合国际标准和规范
|
ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准
|
||
校准模式
|
出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值
|
||
极限值监控
|
声、光报警提示超过极限
|
||
测量单位
|
um,mm,cm;mils,inch,thou
|
||
操作温度
|
-10℃-60℃
|
||
存放温度
|
-20℃-70℃
|
||
数据接口
|
IrDA 1.0(红外接口)
|
||
电源
|
2节AA电池
|
||
标准
|
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 |
||
体积
|
157mm x 75.5mm x 49mm
|
||
重量
|
约175g
|
约210g
|
约175g(内置)/230g(外置)
|
德国EPK涂层测厚仪-MINITEST 720/730/740 可选探头:
探头 特性 |
F1.5,N0.7,FN1.5 |
F2 |
F5,N2.5,FN5 |
F15 |
||
F |
N |
F |
F |
N |
F |
|
测量范围 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
使用范围 |
小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用 |
粗糙表面 |
标准探头,使用广泛 |
厚涂层 |
||
测量原理 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
信号处理 |
探头内部32位信号处理(SIDSP) |
|||||
**度 |
±(1μm+0.75%读值) |
±(1.5μm+0.75%读值) |
±(5μm+0.75%读值) |
|||
重复性 |
±(0.5μm+0.5%读值) |
±(0.8μm+0.5%读值) |
±(2.5μm+0.5%读值) |
|||
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
|||
小曲率半径(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
|||
小曲率半径(凹,外置探头) |
7.5mm |
10mm |
25mm |
|||
小曲率半径(凹,内置探头) |
30mm |
30mm |
30mm |
|||
小测量面积 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm |
|||
小基体厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
连续模式下测量速度 |
每秒20个读数 |
|||||
单值模式下大测量速度 |
每分钟70个读数 |
探头 特性 |
F1.5,N0.7,FN1.5
|
F2
|
F5,N2.5,FN5
|
F15
|
||
F
|
N
|
F
|
F
|
N
|
F
|
|
测量范围
|
0-1.5mm
|
0-0.7mm
|
0-2mm
|
0-5mm
|
0-2.5mm
|
0-15mm
|
使用范围
|
小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用
|
粗糙表面
|
标准探头,使用广泛
|
厚涂层
|
||
测量原理
|
磁感应
|
电涡流
|
磁感应
|
磁感应
|
电涡流
|
磁感应
|
信号处理
|
探头内部32位信号处理(SIDSP)
|
|||||
**度
|
±(1μm+0.75%读值)
|
±(1.5μm+0.75%读值)
|
±(5μm+0.75%读值)
|
|||
重复性
|
±(0.5μm+0.5%读值)
|
±(0.8μm+0.5%读值)
|
±(2.5μm+0.5%读值)
|
|||
低端分辨率
|
0.05μm
|
0.1μm
|
1μm
|
|||
小曲率半径(凸)
|
1.0mm
|
1.5mm
|
5mm
|
|||
小曲率半径(凹,外置探头)
|
7.5mm
|
10mm
|
25mm
|
|||
小曲率半径(凹,内置探头)
|
30mm
|
30mm
|
30mm
|
|||
小测量面积
|
Φ5mm
|
Φ10mm
|
Φ25mm
|
|||
小基体厚度
|
0.3mm
|
40μm
|
0.5mm
|
0.5mm
|
40μm
|
1mm
|
连续模式下测量速度
|
每秒20个读数
|
|||||
单值模式下大测量速度
|
每分钟70个读数
|