CTS-1008plus超声波探伤仪 CTS-1008plus 上海增骏实业有限公司

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产品名称：CTS-1008plus超声波探伤仪
产品型号：CTS-1008plus
产品厂商：汕超
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简单介绍：

CTS-1008plus超声波探伤仪
CTS-1008plus超声波探伤仪带有调节选项的高性能脉冲方波发生器，CTS-1008plus超声探伤仪成功地将常规PE检测的**性能和TOFD成像检测技术**结合,超声波探伤仪CTS-1008plus无论是检测高衰减材料还是薄工件均能带来优的性能,CTS-1008plus超声波探伤仪价格优惠。

详情介绍：

CTS-1008plus超声波探伤仪

TOFD成像超声设备超声波探伤仪CTS-1008plus，成为目前国内**掌握TOFD探头、TOFD仪器及配套扫查架自主设计、制造的厂家。经大量的测试对比，其性能和功能**竞争力，充分体现了设备成套设计和制造所带来的先进性和优越性。CTS-1008plus超声波探伤仪产品完全符合国内JB/T 4730、GB/T 23902-2009及国外API、ASME、BS、ASTM等标准要求。

CTS-1008plus超声波探伤仪成功地将常规PE检测的**性能和TOFD成像检测技术**结合在一起。CTS-1008plus超声波探伤仪其常规PE检测支持通用的脉冲反射式超声探伤，性能优异、功能强大实用、具备多种**性能和支持多种检测标准及应用；而TOFD成像检测技术则是利用超声衍射时差技术工作，配备本公司研制的复合材料探头，对缺陷具有检出率高，定量定位精度高，检测简单快捷，检测效率高等特点；CTS-1008plus超声波探伤仪还可以外接多款扫查设备，支持B、C、D等多种成像方式。整机重量仅1.4kg，CTS-1008plus超声波探伤仪是目前国内重量轻的TOFD检测仪，完全满足您便携式移动检测及各种特殊检测场合的作业需要。

CTS-1008plus超声波探伤仪主要特点：

· TOFD成像技术(详情见技术参数)

· 支持常规PE扫查后，TOFD复核、**测量缺欠尺寸和轮廓，评估缺欠特性及走向；支持TOFD成像后，常规PE确认

· 高采样率可达640MHz，测量分辨率0.1mm，小显示范围2mm

· 工作频率0.5-20MHz，灵敏度余量高达62dB，低频更有更佳的信噪比

· 高亮度、高分辨率(640x480) 彩色TFT液晶显示屏，实现佳的读测结果，国内手持仪器无出其右

· 带有调节选项的高性能脉冲方波发生器，和探头实现佳的匹配(可实现无感线圈探头的优良激励),无论是检测高衰减材料还是薄工件均能带来优的性能。方波发生器电压极性可提供正、负两种，亦可同时提供负方波和负尖脉冲

· 体积小，重量轻，锂电池供电，可连续工作6小时以上

· 具备LAN网络接口，实现数据的远程传输及仪器控制。当仪器做为方波发生器时，可提供对仪器参数的控制

· 两维增量型编码器接口，实现**的位置检测成像(B、C、D扫)

· 同步模拟RF波形输出，输出阻抗50Ω，可做为数据采集及探头测试的信号源

· 高速USB接口，可外接U盘实现数据的存储和转存；外挂鼠标能实现对图像化检测结果实现**的分析

· 内置充电功能；电池、直流供电自动检测显示；充电、供电自动切换，充电温度双重保护；应用户需求可配外置充电器

· 多种软件功能,覆盖检测的方方面面；的、**性的键盘及万能旋钮调节方式，使探伤倍感轻松无忧；人性化的菜单设计、多种输入法输入方式、中英文语言菜单等

· 自动测试探头频率、自动优化方波宽度，实现探头和仪器的优配合

· 图像化厚度报警功能、波形连续存储功能及多种波形测量模式

· 自动测量仪器指标功能及波峰自动搜索功能

· 报警时闸门内波形颜色改变、DAC曲线报警颜色提醒、DAC曲线自动延伸

· 增加API 5UE 和 AWS D1.1功能

CTS-1008plus超声波探伤仪主要技术性能：

脉冲类型	正方波脉冲，幅度及宽度可调
脉冲前沿	< 10ns
脉冲宽度	30～1000ns连续可调，5ns步进，高频时自动优化为脉冲激励
脉冲幅度	发射电压25V-250V连续可调，25V步进
阻抗	400、80Ω
重复频率	25～1000Hz可调节
检波方式	数字检波
采样频率	160MHz(硬件)
频带宽度	0.5～20MHz（宽带）、1～5MHz（窄带）
动态范围	> 32dB
垂直线性误差	< 3%
水平线性误差	< 0.2%
分辨力	> 36dB
灵敏度余量	> 62dB
波形显示方式	射频波
声速范围	1000～15000m/s
检测范围	0.0～10000mm (钢纵波)。连续可调，小步进值 0.1mm
脉冲移位	脉冲移位: -7.5～3000μs 。
触发方式	编码器触发（大分辨力0.125mm）
等效输入噪声
衰减精度	< ±1dB/20dB
成像模式	根据仪器的设置和扫查方式显示B扫、D扫、TOFD成像
记录方法	完全原始数据记录
扫查长度	单次长5m，自动滚屏,多次无限制
小检测厚度	> 6mm，需配合本司探头
扫查架	手动、手推、磁吸、可为用户定做
探头	复合材料，详细参数见规格表
在线/离线数据分析	恢复和回放扫查记录的A扫波形缺陷尺寸和轮廓、缺陷标记及记录直通波拉直、底波拉直、差分、对比度调整、SAFT(离线)
数据报告	直接打印校验表、A扫波形、B扫图像、D扫图像、TOFD图像
接口	LAN、USB、两维编码器
显示	5.7”高亮真彩色高分辨率640×480象素TFT屏，扫查时A扫波形和B、D扫图像同步显示
控制	前面板、旋钮、鼠标、键盘
可外接设备	USB、键盘、鼠标，通过USB或LAN连接打印机、U盘

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