产品名称：M2粗糙度仪

    Perthometer M2粗糙度仪基于久经验证的强大功能t, 使得仪器的设置如测量条件，系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M2粗糙度仪让您得到到的测量功能和高效的测量灵活性.与Perthometer M1粗糙度仪对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求，还能使大多数的测量参数和特性曲线完全根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。更多的, MarSurf M2粗糙度仪提供了内置的存储器，可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测, 垂直显示比例的调整, 用于计算粗糙度峰顶数使用的不对称截止线设置.

德国马尔Mahr Perthometer M2便携式粗糙度测量仪 技术参数

• 测量范围高达150 µm (6000 µin)
• 测量单位 µm/µin 可选
• 评定标准: DIN/ISO/JIS 和CNOMO (Motif) 可选
• 依照 DIN EN ISO 4288/ASME B461标准的测量长度选择: 1,75 mm; 5,6 mm; 17,5 mm (0,07 in; 0,22 in; 0,7 in);依照 EN ISO 12085标准: 1 mm; 2 mm; 4 mm; 8 mm; 12 mm; 16 mm
• 截止波长可从 1 至5自由选择
• 完全依照标准的测量波长及测量长度自动选择
• 依照 DIN EN ISO 11562 标准的相位修正轮廓滤波器
• 可选择截止波长有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm (0,01 in/0,032 in/0,100 in)
• 可选择短截止波长
• 依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数: Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc; 依照 JIS标准的评定参数: Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif 标准的评定参数: R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL (3-区域测量)
• 可显示公差及输出测量报告中
• 显示比例可自动或手动选择
• 可打印R-轮廓(ISO/JIS), P-轮廓(Motif), 材料率曲线, 等测量报告
• 测量报告可输出测量日期及时间
• 内置存储卡可存储200组测量数据
• 动态传感器校准
• 锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪 产品应用

• 轴类, 外壳, 大体积的机械机架
• 汽车业应用, 如凸轮轴和曲轴测量和/或其他需要横向测量的位置
• 可在生产线上使用，实现固定架构中任何部件的快速线上实时测量

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪 标准配置

• M2评定单元
• PFM 驱动器
• NHT 6-100 传感器
• 通用 90-264 V电源适配器