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TH2840A/ TH2840B精密LCR數字電橋測試儀介紹:
TH2840A/ TH2840B精密LCR數字電橋測試儀新一代技術研製成功的新一代LCR數字電橋,**性的采用了雙CPU架構、Linux底層係統、10.1寸電容式觸摸屏、中英文操作界麵、內置使,用說明及幫助等新一代技術,解決了以往LCR測試速度慢、顯示單操作繁瑣等缺陷。
TH2840係列LCR數字電橋設計頻率從20Hz-500kHz/2MHz,彌補了500kHz頻率範圍內缺乏高性能電橋的缺點。得益於采用了10.1寸、分辨率達1280*800的電容式觸摸屏采用了四參數顯示、所有設置、監視、分選參數、狀態等可以在同一屏顯示,避免了頻繁切換的繁瑣操作。
產品主要特點:
■
高分辨:10.1英寸,分辨率1280*800,電容式觸摸屏
■ 高穩定性和一致性:14個量程配置
■ 高功率:信號電平:20V/100mA
內置直流偏置:±40V/100mA
內置偏流源:2A
■ DCR電平:20V/100mA
■
高速度:雙CPU架構,*快達1800次/s的測試速度
■
點測、列表掃描、圖形掃描三種測試方式
■
四參數測量
■ 201點多參數列表掃描功能
■
圖形掃描功能,4軌跡任意選擇,支持1/2/4分屏
■
分選功能:LCR模式10檔分選
■
高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集,
兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A
■
無源元件:
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析
■
半導體元件:
LED驅動集成電路寄生參數測試分析;變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
■
其它元件:
■
介質材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
■
磁性材料:
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■
半導體材料:
半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
- 技術參數
-
產品型號
TH2840A
TH2840B
顯示
顯示器
10.1英寸電容觸摸屏
比例
16:9
分辨率
1280×RGB×800
測量參數
方式
四參數任意選擇
AC
Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC
DC
RDC、VDC、IDC
測試頻率
範圍
20Hz-500kHz
20Hz-2MHz
精度
0.01%
分辨率
0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz)
1mHz (100.000Hz-999.999Hz)
10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz)
100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz )
1Hz (100.000kHz-999.999kHz)
10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz)
AC測試信號模式
額定值(ALC OFF)
設定電壓為測試端開路時Hcur電壓
設定電流為測試端短路時從Hcur流出電流
恒定值(ALC ON)
保持DUT上電壓與設定值相同
保持DUT上電流與設定值相同
測試電平
電壓範圍
5mVrms-20Vrms
F≤1MHz 5mVrms-20Vrms
F>1MHz 5mVrms-15Vrms
準確度
±(10%×設定值+2mV)(AC≤2Vrms)
±(10%×設定值+5mV)(AC>2Vrms)
分辨率
1mVrms(5mVrms-0.2Vrms)
1mVrms(0.2Vrms-0.5Vrms)
1mVrms(0.5Vrms-1Vrms)
10mVrms(1Vrms-2Vrms)
10mVrms(2Vrms-5Vrms)
10mVrms(5Vrms-10Vrms)
10mVrms(10Vrms-20Vrms)
電流範圍
50μArms-100mArms
分辨率(100Ω內阻)
10μArms (50μArms-2mArms)
10μArms (2mArms-5mArms)
10μArms (5mArms-10mArms)
100μArms (10mArms-20mArms)
100μArms (20mArms-50mArms)
100μArms (50mArms-100mArms)
RDC測試
電壓範圍
100mV-20V
分辨率
1mV(0V-1V)
10mV(1V-20V)
電流範圍
0mA-100mA
分辨率
10μA(0mA-10mA)
100μA(10mA-100mA)
DC偏置
電壓範圍
0V-±40V
準確度
AC≤2V 1%×設定電壓+5mV
AC>2V 2%×設定電壓+8mV
分辨率
1mV(0V-1V)
10mV(±1V- ±40V)
電流範圍
0mA-±100mA
分辨率
10μA(0mA-10mA)
100μA(10mA-100mA)
內置電流源
電流範圍
0mA-2A
準確度
I>5mA ±(2%×設定值+2mA)
分辨率
1mA
測試端配置
五端對
測試電纜長度
0m、1m、2m、4m
輸出阻抗
30Ω,±4%@1kHz
100Ω,±2%@1kHz
運數學算
與標稱值的**偏差Δ,與標稱值的百分比偏差Δ%
等效方式
串聯、並聯
校準功能
開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD
測量平均
1-255次
量程選擇
自動AUTO、手動HOLD
量程配置
LCR
100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ
RDC
1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ
測量時間(ms)
快速+:0.56ms
快速:3.3ms
中速: 90ms
慢速: 220ms
*高準確度
0.05%(具體參考說明書)
測量顯示範圍
Cs、Cp
0.00001pF-9.99999F
Ls、Lp
0.00001μH-99.9999kH
D
0.00001-9.99999
Q
0.00001-99999.9
R、Rs、Rp、X、Z、RDC
0.001mΩ-99.9999MΩ
G、B、Y
0.00001μs-99.9999S
VDC
±0V-±999.999V
IDC
±0A-±999.999A
θr
-3.14159-3.14159
θd
-179.999°-179.999°
Δ%
±(0.000%-999.9%)
多功能參數列表掃描
點數
201點,每個點可設置平均次數,每個點可單獨分選
參數
測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流(100mA)、DC BIAS電流(2A)
觸發模式
順序SEQ:當一次觸發後,在所有掃描點測量,/EOM/INDEX隻輸出一次
步進STEP:每次觸發執行一個掃描點測量,每點均輸出/EOM/INDEX,但列表掃描比較器結果隻在*後的/EOM才輸出
其他特點
1.掃描參數與測試參數都有多種複製功能
2.每個掃描點均可設置延時
比較器
每個掃描點*多可測量四個測試參數,每個參數均可設置上下限,所有測試參數都合格輸出PASS信號,否則輸出FAIL信號,未設上下限則不判斷
圖形掃描
掃描點數
51、101、201、401、801點可選
結果顯示
每個參數的極值以及光標所在點的掃描參數值與對應的測試參數值
掃描軌跡
1-4個測試參數任意選擇,掃描曲線可以一分屏、二分屏、四分屏
顯示範圍
實時自動、鎖定
坐標標尺
對數、線性
掃描參數
頻率、AC電壓、AC電流、DCV BIAS / DCI BIAS(100mA) / DCI BIAS(2A)
觸發方式
單次
手動觸發一次,從起點到終點一次掃描完成,下個觸發信號啟動新一次掃描
連續
從起點到終點無限次循環掃描
結果保存
圖形、文件
比較器
Bin分檔
10Bin、PASS、FAIL
Bin偏差設置
偏差值、百分偏差值、關
Bin模式
容差、連續
Bin計數
0-99999
檔判彆
每檔*多可設置四個參數極限範圍,四個測試參數結果設檔範圍內顯示對應檔號,超出設定*大檔號範圍則顯示FAIL,未設置上下限的測試參數自動忽略檔判彆
PASS/FAIL指示
滿足Bin1-10,前麵板PASS燈亮,否則FAIL燈量
數據緩存
201個測量結果可分批讀取
存儲調用
內部
約100M非易失存儲器測試設定文件
外置USB
測試設定文件、截屏圖形、記錄文件
鍵盤鎖定
可鎖定前麵板按鍵,其他功能待擴充
接口
USB HOST
2個USB HOST接口,可同時接鼠標、鍵盤,U盤同時隻能使用一個
USB DEVICE
通用串行總線插座,小型B類(4個接觸位置);與USB TMC-USB488和USB2.0相符合,陰接頭用於連接外部控製器。
LAN
10/100M以太網自適應
HANDLER
用於Bin分檔信號輸出
外部DC BIAS控製
支持TH1778A
RS232C
標準9針,交叉
RS485
可以接受改製或外接RS232轉RS485模塊
開機預熱時間
60分鐘
輸入電壓
100-120VAC/198-242VAC可選擇,47-63Hz
功耗
不小於130VA
尺寸(WxHxD)mm3
430x177x265
重量(kg)
11kg
- 附件
標配 | |||||
配件名稱 | 型號 | ||||
帶盒四端絕緣帶鎖Kelvin測試線 | TH26011BS | ||||
夾具 | TH26048 | ||||
短路片 | TH26010 |
A.10.1寸大屏,四種測量參數,讓細節一覽無遺
10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率,Linux係統、中英文操作界麵,支持鍵盤、鼠標、LAN接口,帶來的是無以倫比的操作便捷
性。
大屏幕帶來更多的好處是,可以把4個測試參數及分選參數、分選結果、功能選擇等參數放置在同一屏幕,而且看起來絕不擁
擠和雜亂,同時可以顯示四種測量參數,四種測量參數任意可調。
和早期LCR對比,操作便捷性、顯示完整性一目了然。
B.高達1800次/秒測量速度
由於**性的采用了雙CPU設計,一個CPU負責測試處理數據,另一個CPU負責顯示數據,因此TH2840測試速度高達1800次/秒。
高速的測試速度在自動化產線可以極大的提高效率。
對於部分需要實時采樣體現被測件瞬態變化特征,或者測量變化過程相應時間,TH2840係列0.56ms的測量速度可**解決。
如下列應用,在兩個極板之間加載偏壓,兩端電容隨著偏置電壓變化而變化.
記錄未加偏置時電容C0
偏置上升過程中的電容值
偏壓達到20V並且穩定之後的電容C1
計算從C0-C1之間的穩定時間Th。
常規的LCR數字電橋,由於測試速度限製,采樣率無法達到幾
乎實時采集,用TH2840係列雙CPU,可實時觀察變化過程並計算
出穩定時間。
TH2840X上位機 示波器實時抓獲波形
電容測試 CH1: AD脈衝(黃色)
測試頻率:1MHz CH2: DC BIAS 打開(綠色)
量程:100Ω CH4: DC BIAS 上升(紅色)
上升瞬間波形 全部波形
C.超強硬件配置
除了雙CPU設計,TH2840係列也增強了其他硬件配置參數:
1. AC測試電平提升至20Vrms/100mA,同類產品僅TH2838H可達到,在測試C-V曲線時範圍更廣
2. DC偏置為±40V/±100mA,為同類產品*高配置
3. 標配獨立2A直流偏置電流源,為2A電流以內電感測試帶來福音,支持外界TH1778A係列擴展至120A。
4. DCR測試電平提升至20V,測試mH級及以上電感更快速穩定**。
D.改進的分選設置
針對以往LCR分選設置及參考設
置來回切換等過於複雜的操作,做出
了如下改進以便於客戶使用及設置:
1. 合並標稱值和參考值的設置
2. 由於直接采用了4參數測量及
分選,因此取消附屬檔、副參
數檔。
E.增強的列表掃描功能 F.強大的分析圖形界麵
可設置4個測量參數,4個測量參數有獨立開關,列表掃 4個掃描軌跡,1-4個測試參數任意選擇,掃描曲線可以
描每個點的頻率,電平,偏置,功能,延時都可以獨立設置,滿足了 一分屏、二分屏、四分屏。
大多數客戶的需求。
G.10檔分選及可編程HANDLER接口
儀器提供了10檔分選,為客戶產品質量分級提供了可 在與自動化設備連接時,怎麼配置HANDLER接口
能,分選結果直接輸出至HANDLER接口。 輸出,一直是自動化客戶的難題,TH2840係列LCR將
HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對應信號、應答方式
等完全可視化,讓自動化連接更簡單。
H.智能固件升級方式
儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等,都可以通過升級固件(Firmware)來進行更新,而無需返廠進行。
TH2840係列LCR數字電橋固件升級非常智能,可以通過係統設置界麵或者文件管理界麵進行,智能搜索儀器內存、外接優盤
甚至是局域網內升級包,並自動進行升級。
I.選配附件